透射電子顯微鏡（簡稱TEM）具有很高的空間分辨率和綜合分析能力強等優點，可在微納尺度到原子尺度揭示物質的形貌、晶體結構、物相鑒定、化學成分、三維重構像、原子成像、電場和磁場結構等，對于納米地球與行星科學的研究具有重要的作用。
檢測是工廠保證質量很重要的一個環節，涉及到微小物體或要檢測產品的局部微小的細節，或檢測要求精度較高，都要用到顯微鏡放大觀察。隨著科技的發展，尤其是便攜式顯微鏡的成熟和發展，以其小巧輕便、操作簡單等優勢在工業檢測方面得到廣泛應用，成為工業檢測重要工具，讓工業檢測更簡單。
導讀：布拉迪斯拉發先進材料應用中心的科研工作者利用對光致各向異性有不同響應的超高分辨散射式近場光學顯微鏡，研究了有機半導體薄膜的分子取向與離散分子結構異質性的關系，揭示了分子取向對分子缺陷的影響。
